实验一 集成逻辑门电路逻辑
功能的测试
一、实验目的
1、熟悉数字逻辑实验箱的结构、基本功能和使用方
法。
2、掌握各种 TTL门电路的逻辑功能。
二、实验仪器及设备
1、数字逻辑实验箱 1台
2、元器件：
74LS08（二输入端四与门） 1片
74LS32（二输入端四或门） 1片
74LS04（六反相器） 1片
74LS00（二输入端四与非门） 1片
74LS20（四输入端二与非门） 1片
74LS86（二输入端四异或门） 1片
CD4002（四输入端二或非门） 1片
导线若干
三、实验内容
1．测试 74LS08（二输入端四与门）的逻辑功能
2．测试 74LS32（二输入端四或门）的逻辑功能
3．测试 74LS04（六反相器）的逻辑功能
4．测试 74LS00（二输入端四与非门）的逻辑功能
5．测试 74LS20（四输入端二与非门）的逻辑功能
6．测试 74LS86（二输入端四异或门）的逻辑功能
7．测试 CD4002（四输入端二或非门）的逻辑功能
集成块实物图
1．测试 74LS08的逻辑功能
将 74LS08芯片正确插入面包板，并注意识
别第 1脚位置（集成块正面放置且缺口向左，则
左下角为第 1脚）。按表一要求输入高、低电平
信号，测出相应的输出逻辑电平。
实物接线图
2．测试 74LS32的逻辑功能
将 74LS32正确插入面包板，并注意识
别第 1脚位置（集成块正面放置且缺口向左，
则左下角为第 1脚）。按表一要求输入高、
低电平信号，测出相应的输出逻辑电平。
3．测试 74LS04的逻辑功能
将 74LS04正确插入面包板，并注意识
别第 1脚位置（集成块正面放置且缺口向左，
则左下角为第 1脚）。按表一要求输入高、
低电平信号，测出相应的输出逻辑电平。
4,测试 74LS00的逻辑功能
将 74LS00芯片正确插入面包板，并注
意识别第 1脚位置（集成块正面放置且缺口
向左，则左下角为第 1脚）。按表一要求输
入高、低电平信号，测出相应的输出逻辑
电平。
5．测试 74LS20的逻辑功能
将 74LS20芯片正确插入面包板，并注
意识别第 1脚位置（集成块正面放置且缺口
向左，则左下角为第 1脚）。按表一要求输
入高、低电平信号，测出相应的输出逻辑
电平。
6．测试 74LS86的逻辑功能
将 74LS86芯片正确插入面包板，并注
意识别第 1脚位置（集成块正面放置且缺口
向左，则左下角为第 1脚）。按表一要求输
入高、低电平信号，测出相应的输出逻辑
电平。
7．测试 CD4002的逻辑功能
按表一要求输入高、低电平信号，测
出相应的输出逻辑电平。将 CD4002芯片
正确插入面包板，并注意识别第 1脚位置
（集成块正面放置且缺口向左，则左下角
为第 1脚）。
四、实验记录
五、实验结果分析
总结与门、或门、非门、与非、或非
门、异或的逻辑规律。