实验二 TTL集成门电路的逻辑
功能与参数测试
一、实验目的
1.熟悉数字电路实验箱的结构、基本功能
和使用方法。
2.掌握 TTL集成电路的使用规则。
3.掌握 TTL集成与非门的逻辑功能和主要
参数的测试方法。
二、实验仪器及设备
1.数字逻辑实验箱 1台
2.元器件:直流毫安表、直流微安表、直流
电压表,74LS20× 2, 1K,10K
电位器,200Ω电阻
三、实验内容
1.验证 TTL集成与非门的逻辑功能。
2.74LS20主要参数的测试。
3.74LS20电压传输特性。
1、验证 TTL集成与非门的逻辑功能。
按图 1接线,按表 1的真值表逐个测试
集成块中两个与非门的逻辑功能 。
图 1
表 1
2,74LS20主要参数的测试。
低电平输出电源电流和高电平输出电
源电流;低电平输入电流和高电平输入电

测试电路如图 2。
注,74LS20为双与非门,两个门的输入端
作相同处理。
图 2
3,74LS20电压传输特性。
如图 3所示,调节电位器 RW,使 Vi从 0V
向 5V变化,逐点测试 Vi和 VO值,并将结果
记录。以便画出实验数据曲线。
图 3
四、实验记录:
将实验结果记录到表中
四、实验结果分析
1.TTL与非门闲置输入端的有那些处置方
法?
2.画出实测的电压传输特性曲线,并从中
读出个有关参数值。