（ 1）,火焰原子化器构造：三部分：喷雾器，雾化器，燃烧器。
喷雾器由不锈钢或聚四氟乙烯做成,p41
图 3-7
雾化室由不锈钢作成,
燃烧器构造单缝和三缝,
对火焰的基本要求：
(Ⅰ) 燃烧速度,是指火焰由着火点向可燃混凝气其他点传播的速度,供气速度过大,导致 吹灭,供气速度不足将会引起 回火 。
（ Ⅱ ） 火焰温度 P42表 3-2。
（ Ⅲ ） 火焰的燃气与助燃气比例,
可将火焰分为三类：
化学计量火焰,富燃火焰,贫燃火焰 。
化学计量火焰 由于燃气与助燃气之比与化学计量反应关系相近，
又称为中性火焰,这类火焰,温度高、稳定、干扰小背景低，适合于许多元素的测定。
富燃火焰 指燃气大于化学元素计量的火焰 。 其特点是燃烧不完全,温度略低于化学火焰,
具有还原性,适合于易形成难解离氧化物的元素测定；干扰较多,背景高 。
贫燃火焰 指助燃气大于化学计量的火焰,它的温度较低,有较强的氧化性,有利于测定易解离,易电离元素,如碱金属 。
（ Ⅳ ） 火焰的光谱特征见图
（ Ⅴ ） 火焰原子化器特点优,简单,火焰稳定,重现性好,
精密度高,应用范围广 。
缺：原子化效率低只能液体进样 。
⑵,非火焰原子化器就是常说的石墨炉原子化器构造 P43图 3-10 电源 低压 （ 10v） 大电流 （ 500A）
炉体,金属 套,绝缘套圈,石黑管,外层水冷却 。
石黑管,现两种形状,标准型与沟纹型标准型长 28mm 内径 8mm 有小孔为加试样,水冷却外层,情性气体保护石黑管在高温中免被氧化 。
优点：绝对灵敏度高,检出达 10-12-10-14g 原子核化效率高 。
缺点：基体效应,背景大,化学干扰多,重现性比火焰差 。
⑶,低温原子核化器又称化学原子化器 例,测 汞 仪
3.单色器比发射光谱简单光谱通带,W = D·S
S 缝宽度 （ mm）
倒线色教率 D = dλ/dl
被测元素共振吸收线与干扰线近,选用 W要小,干扰线较远,可用大的 W,一般单色器色散率一定,
仅调狭缝确定 W。
4,检测器使用光电倍增管放大光电流方法三,干扰及其消除方法类型,物理干扰,化学干扰,电离干扰,光谱干扰 和背景干扰,
Ⅰ,物理干扰是指试液与标准溶液物理性质有差别而产生的干扰 。 粘度,表面张力或溶液密度等变化,影响样品雾化和气溶胶到达火焰的传递等会引起的原子吸收强度的变化 。 非选择性干扰 。
消除方法：配制被测试样组成相近溶液,或用标准化加入法 。 浓度高可用稀释法
Ⅱ,化学干扰化学干扰是指被测元原子与共存组分发生化学反应生成稳定的化合物,影响被测元素原子化 。
例如：
PO-34 Ca2+的反应,干扰 Ca的测定 。
Al,Si在空气 -乙炔中形成的稳定化合物 。
W,B,La,Zr,Mo在石墨炉形成的碳化物 。
这些是 选择性干扰,分不同情况采取不同方法 。
如,磷酸盐干扰 Ca,当加入
La或 Sr时,可释放出 Ca来 。 EDTA
与 Ca,Mg形成螯合物,从而抑制磷酸根的干扰 。
一般消除方法有：
(1)选择合适的原子化方法 提高原子化温度,化学干扰会减小,在高温火焰中 P043- 不干扰钙的测定 。
（ 2） 加入释放剂 （ 广泛应用 ）
（ 3） 加入保护剂 EDTA,8— 羟基喹啉等,即有强的络合作用,又易于被破坏掉 。
（ 4） 加基体改进几剂
（ 5） 分离法
Ⅲ,电离干扰在高温下原子会电离使基态原子数减少,吸收下降,称电离干扰,消除的方法是加入过量消电离剂,所谓的消电离剂,
是电离电位较低的元素,加入时,产生大量电子,抑制被测元素电离,
K ---- K+ + e
Ca2++ e --- Ca
Ⅳ,光谱干扰吸收线重叠待测元素分析线与共存元素的吸收线重叠消除方法,减小狭缝,降低灯电流,或换其它分析线,
Ⅴ,背景干扰背景干扰也是光谱干扰,主要指分子吸与光散射造成光谱背景 。 分子吸收是指在原子化过程中生成的分子对辐射吸收,分子吸收是 带光谱 。 光散射是指原子化过程中产生的微小的固体颗粒使光产生散射,造成透过光减小,吸收值增加 。
背景干扰,一般使吸收值增加 。 产生正误差 。
背景干扰的的校正方法
Ⅰ,用邻近非共振线校正背景用分析线测量原子吸收与背景吸收的总吸光度,因非共振线不产生原子吸收 用它来测量背景吸收的吸光度 。 两者之差值即为原子吸收的吸光度 。
例 分析线 非共振线
Ag 328,07 Ag 312,30
Ca 422,67 Ne 430,40
Hg 253,63 Al 266,92
Ⅱ,连续光源校正背景先用锐线光源测定分析线的原子吸收和背景吸收的总和 。 再用氘灯 （ 紫外区 ） 或碘钨灯,氙灯 （ 可风区 ） 在同一波长测定背景吸收 （ 这时原子吸收可忽略不计 ） 计算两次测定吸光度之差,即为原子吸收光度 。
Ⅲ,Zeaman 效应校正背景该法是在磁场作用下,简并的谱线发生分裂的现象 。
Zeeman方法：
光源调制 —— 磁场加在光源上 。
吸收线调制 —— 磁场加在原子能器上 — — 使用广泛 。
a,恒磁场调制方式吸收线分裂为 π 和两个 σ ±,π 组分平行于磁场方向波长不变,σ ± 组分垂直于磁场方向,波长分别向长波和短波方向移动 。
光源发射线通过起偏器后变为偏振光,某时刻平行于磁场方向的偏振光通过时,吸收线组分和背景产生吸收,得到原子吸收和背景吸收总吸光度；另一时刻垂直于磁场的偏振光通过原子能器时只有背景吸收,没有原子吸收,
两者之差即为原子吸收 。
b,可变磁场调节方式磁场变化 零磁 ======激磁零磁时,原子 +背景吸收 ; 激磁时,
仅背景吸收,他们之差为原子吸收 。
Ⅳ,自吸效应校正背景
1982提出,在空心阴极内,积聚的原子浓度足够高时,产生自吸 。 在极端情况下 （ 图 ）,这时测出的是背景吸收 。
锐线光谱 ------ 低电流脉冲供电自蚀光谱 ------ 高电流脉冲供电要求供电为脉冲电流光源 。
四,分析方法
1,测量条件选择
⑴,分析线,查手册,随空心阴极灯确定 。
⑵,狭缝光度 W=DS没有干扰情况下,
尽量增加 W,增强辐射能 。 ⑶,灯电流,
按灯制造说明书要求使用 。 ⑷,原子条件 。 ⑸,进样量 （ 主要指非火焰方法 ） 。
2,分析方法
(1).工作曲线法最能吸光度 0.1---0.5,工作曲线弯曲原因,见 P45。
⑵,标准加入法
Ax = k C
A0 = k（ C0 + Cx）
Cx = AxC0/（ A0-Ax）
标准加入法能消除基体干扰,不能消背景干扰 。 使用时,注意要扣除背景干扰 。
五,灵敏度与检出限
1,X ≡ f（ C） ； S = dX/dC
习惯 灵敏度 现定义,特征浓度,是指产生 1%吸收时,
水溶液中某元素的浓度 。 通常用 mg/ml/1%表示可用下式计算特征浓度,
（ S） C0 = 0.00044Cx/A （ μg/ml/1%）
CX为试液浓度 （ μg/ml）,A为其吸光度,0.0044即为 1%时的吸光度 。
特征质量 m。 石墨炉法常用绝对量表示 m0
（ pg or ng ）
m0 = 0.0044/S
= 0.0044 M /A·S (pg or
ng)
A·S为峰面积积分吸光度,M为分析物质量 。 S为校正曲线直线部分斜率检出限 D
通常以产生空白溶液讯号的标准偏差 2
倍时的测量讯号的浓度来表示,
Am = kC 2δ = kD
D = 2Cδ/A m (μg/ml)
Am 为平均吸光度,δ 空白溶液吸光度标准偏差,C为浓度 。
按 IUPAC规定,
D = 3Cδ/A m
例如：现测定铅时,0.1μg/ml铅的标准溶液产生吸光度为 0,24，置倍度分别 2,3时，检测限为多少?
空白测定 20次的均方误差 0,012
解,D = 0.1× 2× 0.012/0.24 μg/ml
= 0.01μg/ml
当置信度为 3时,D = 0.015μg/ml
喷雾器由不锈钢或聚四氟乙烯做成,p41
图 3-7
雾化室由不锈钢作成,
燃烧器构造单缝和三缝,
对火焰的基本要求：
(Ⅰ) 燃烧速度,是指火焰由着火点向可燃混凝气其他点传播的速度,供气速度过大,导致 吹灭,供气速度不足将会引起 回火 。
（ Ⅱ ） 火焰温度 P42表 3-2。
（ Ⅲ ） 火焰的燃气与助燃气比例,
可将火焰分为三类：
化学计量火焰,富燃火焰,贫燃火焰 。
化学计量火焰 由于燃气与助燃气之比与化学计量反应关系相近，
又称为中性火焰,这类火焰,温度高、稳定、干扰小背景低，适合于许多元素的测定。
富燃火焰 指燃气大于化学元素计量的火焰 。 其特点是燃烧不完全,温度略低于化学火焰,
具有还原性,适合于易形成难解离氧化物的元素测定；干扰较多,背景高 。
贫燃火焰 指助燃气大于化学计量的火焰,它的温度较低,有较强的氧化性,有利于测定易解离,易电离元素,如碱金属 。
（ Ⅳ ） 火焰的光谱特征见图
（ Ⅴ ） 火焰原子化器特点优,简单,火焰稳定,重现性好,
精密度高,应用范围广 。
缺：原子化效率低只能液体进样 。
⑵,非火焰原子化器就是常说的石墨炉原子化器构造 P43图 3-10 电源 低压 （ 10v） 大电流 （ 500A）
炉体,金属 套,绝缘套圈,石黑管,外层水冷却 。
石黑管,现两种形状,标准型与沟纹型标准型长 28mm 内径 8mm 有小孔为加试样,水冷却外层,情性气体保护石黑管在高温中免被氧化 。
优点：绝对灵敏度高,检出达 10-12-10-14g 原子核化效率高 。
缺点：基体效应,背景大,化学干扰多,重现性比火焰差 。
⑶,低温原子核化器又称化学原子化器 例,测 汞 仪
3.单色器比发射光谱简单光谱通带,W = D·S
S 缝宽度 （ mm）
倒线色教率 D = dλ/dl
被测元素共振吸收线与干扰线近,选用 W要小,干扰线较远,可用大的 W,一般单色器色散率一定,
仅调狭缝确定 W。
4,检测器使用光电倍增管放大光电流方法三,干扰及其消除方法类型,物理干扰,化学干扰,电离干扰,光谱干扰 和背景干扰,
Ⅰ,物理干扰是指试液与标准溶液物理性质有差别而产生的干扰 。 粘度,表面张力或溶液密度等变化,影响样品雾化和气溶胶到达火焰的传递等会引起的原子吸收强度的变化 。 非选择性干扰 。
消除方法：配制被测试样组成相近溶液,或用标准化加入法 。 浓度高可用稀释法
Ⅱ,化学干扰化学干扰是指被测元原子与共存组分发生化学反应生成稳定的化合物,影响被测元素原子化 。
例如：
PO-34 Ca2+的反应,干扰 Ca的测定 。
Al,Si在空气 -乙炔中形成的稳定化合物 。
W,B,La,Zr,Mo在石墨炉形成的碳化物 。
这些是 选择性干扰,分不同情况采取不同方法 。
如,磷酸盐干扰 Ca,当加入
La或 Sr时,可释放出 Ca来 。 EDTA
与 Ca,Mg形成螯合物,从而抑制磷酸根的干扰 。
一般消除方法有：
(1)选择合适的原子化方法 提高原子化温度,化学干扰会减小,在高温火焰中 P043- 不干扰钙的测定 。
（ 2） 加入释放剂 （ 广泛应用 ）
（ 3） 加入保护剂 EDTA,8— 羟基喹啉等,即有强的络合作用,又易于被破坏掉 。
（ 4） 加基体改进几剂
（ 5） 分离法
Ⅲ,电离干扰在高温下原子会电离使基态原子数减少,吸收下降,称电离干扰,消除的方法是加入过量消电离剂,所谓的消电离剂,
是电离电位较低的元素,加入时,产生大量电子,抑制被测元素电离,
K ---- K+ + e
Ca2++ e --- Ca
Ⅳ,光谱干扰吸收线重叠待测元素分析线与共存元素的吸收线重叠消除方法,减小狭缝,降低灯电流,或换其它分析线,
Ⅴ,背景干扰背景干扰也是光谱干扰,主要指分子吸与光散射造成光谱背景 。 分子吸收是指在原子化过程中生成的分子对辐射吸收,分子吸收是 带光谱 。 光散射是指原子化过程中产生的微小的固体颗粒使光产生散射,造成透过光减小,吸收值增加 。
背景干扰,一般使吸收值增加 。 产生正误差 。
背景干扰的的校正方法
Ⅰ,用邻近非共振线校正背景用分析线测量原子吸收与背景吸收的总吸光度,因非共振线不产生原子吸收 用它来测量背景吸收的吸光度 。 两者之差值即为原子吸收的吸光度 。
例 分析线 非共振线
Ag 328,07 Ag 312,30
Ca 422,67 Ne 430,40
Hg 253,63 Al 266,92
Ⅱ,连续光源校正背景先用锐线光源测定分析线的原子吸收和背景吸收的总和 。 再用氘灯 （ 紫外区 ） 或碘钨灯,氙灯 （ 可风区 ） 在同一波长测定背景吸收 （ 这时原子吸收可忽略不计 ） 计算两次测定吸光度之差,即为原子吸收光度 。
Ⅲ,Zeaman 效应校正背景该法是在磁场作用下,简并的谱线发生分裂的现象 。
Zeeman方法：
光源调制 —— 磁场加在光源上 。
吸收线调制 —— 磁场加在原子能器上 — — 使用广泛 。
a,恒磁场调制方式吸收线分裂为 π 和两个 σ ±,π 组分平行于磁场方向波长不变,σ ± 组分垂直于磁场方向,波长分别向长波和短波方向移动 。
光源发射线通过起偏器后变为偏振光,某时刻平行于磁场方向的偏振光通过时,吸收线组分和背景产生吸收,得到原子吸收和背景吸收总吸光度；另一时刻垂直于磁场的偏振光通过原子能器时只有背景吸收,没有原子吸收,
两者之差即为原子吸收 。
b,可变磁场调节方式磁场变化 零磁 ======激磁零磁时,原子 +背景吸收 ; 激磁时,
仅背景吸收,他们之差为原子吸收 。
Ⅳ,自吸效应校正背景
1982提出,在空心阴极内,积聚的原子浓度足够高时,产生自吸 。 在极端情况下 （ 图 ）,这时测出的是背景吸收 。
锐线光谱 ------ 低电流脉冲供电自蚀光谱 ------ 高电流脉冲供电要求供电为脉冲电流光源 。
四,分析方法
1,测量条件选择
⑴,分析线,查手册,随空心阴极灯确定 。
⑵,狭缝光度 W=DS没有干扰情况下,
尽量增加 W,增强辐射能 。 ⑶,灯电流,
按灯制造说明书要求使用 。 ⑷,原子条件 。 ⑸,进样量 （ 主要指非火焰方法 ） 。
2,分析方法
(1).工作曲线法最能吸光度 0.1---0.5,工作曲线弯曲原因,见 P45。
⑵,标准加入法
Ax = k C
A0 = k（ C0 + Cx）
Cx = AxC0/（ A0-Ax）
标准加入法能消除基体干扰,不能消背景干扰 。 使用时,注意要扣除背景干扰 。
五,灵敏度与检出限
1,X ≡ f（ C） ； S = dX/dC
习惯 灵敏度 现定义,特征浓度,是指产生 1%吸收时,
水溶液中某元素的浓度 。 通常用 mg/ml/1%表示可用下式计算特征浓度,
（ S） C0 = 0.00044Cx/A （ μg/ml/1%）
CX为试液浓度 （ μg/ml）,A为其吸光度,0.0044即为 1%时的吸光度 。
特征质量 m。 石墨炉法常用绝对量表示 m0
（ pg or ng ）
m0 = 0.0044/S
= 0.0044 M /A·S (pg or
ng)
A·S为峰面积积分吸光度,M为分析物质量 。 S为校正曲线直线部分斜率检出限 D
通常以产生空白溶液讯号的标准偏差 2
倍时的测量讯号的浓度来表示,
Am = kC 2δ = kD
D = 2Cδ/A m (μg/ml)
Am 为平均吸光度,δ 空白溶液吸光度标准偏差,C为浓度 。
按 IUPAC规定,
D = 3Cδ/A m
例如：现测定铅时,0.1μg/ml铅的标准溶液产生吸光度为 0,24，置倍度分别 2,3时，检测限为多少?
空白测定 20次的均方误差 0,012
解,D = 0.1× 2× 0.012/0.24 μg/ml
= 0.01μg/ml
当置信度为 3时,D = 0.015μg/ml
