第三章 集成逻辑门
本章主要介绍以下内容:
? 晶体管的开关特性
? TTL集成逻辑门
? CMOS电路
对发射极耦合逻辑( ECL)和 MOS逻辑
门电路作一般性介绍。
第一节 晶体管开关特性
数字电路的基本细胞是晶体管,数字电路是
由千千万万个晶体管组成的。数字电路的工作
特性实际上取决于晶体管的特性。
在数字电路中晶体管工作在开关状态,本章
将简要介绍晶体管的开关特性,并介绍二极管限
幅器、钳位器,三极管反相器。
一,PN 结特性
(一),PN结的构成
半导体材料经不同掺杂过程,可使其内部的电子和空
穴的浓度各不相同。 浓度大的称为多数载流子,浓度小
的称为少数载流子。
多子为电子的是 N型材料;多子为空穴的是 P型材料。
晶体二极管和三极管由 P型和 N型半导体材料复合而
成,P型和 N型半导体材料贴在一起,其接合部称为结。
二极管有一个结,三极管有两个结。
(二)、扩散电流和漂移电流
扩散电流,由于 PN结两边载流子的 浓度差别,载流子
会从浓度高的一方向浓度低的一方运动,称为扩散运动,
它产生扩散电流。
漂移电流,由于 电位差的存在,载流子在电场的作用下
产生的运动,称为漂移运动,它产生漂移电流。
电位差来自 外加电压 和电荷积累构成的 内电场 。
流过 PN结的 总电流 = 扩散电流 + 漂移电流
(三)、外加电压对 PN结的影响
PN结的通断,流过 PN结的电流大小,与 PN 结处的少
子浓度有关,而少子浓度直接受 PN结外加电压的影响,
因此我们分析一下外加电压的几种情况:
无外加电压, 浓度造成的扩散和内电场造成的漂移
达到动态平衡,PN结面的净电荷为零,PN结没有电流流
过。
外加正向电压,外加电场克服内电场,其形成的少子
运动与扩散运动一致,PN结处少子浓度加大,有较大电
流流过 PN结。
外加反向电压,加强了内电场,抑制了扩散运动,
PN结处少子浓度很低,只有很小的反向电流。
三种情况下的少子浓度分布图见书。
这可用中俄边贸的情况作个比喻。
(四),PN结的电容效应
PN 复合结构可细 分为两部分,接合部附近称为结,
也叫 空间电荷区 。 结两边的区域称为 扩散区 。
在上述两区域内,离子电荷、载流子浓度随外加电
压的变化而变化,是影响 PN结电流电压特性的根本原因。
这两个区域的变化过程类似于电容的充放电过程。 空间
电荷区等效为位垒电容,扩散区等效为扩散电容。
了解 PN结内部的变化过程,对理解二极管的开关特
性具有重要意义。
二,晶体二极管的开关特性
二极管(就是一个 PN结)具有单向导电性,理想二
极管如同一个开关。但实际二极管与理想的二极管还是有
一些区别的,特别是在高频电路中,必须加以注意。
(一)、二极管稳态开关特性 i = Is ( e q v / ( k T ) - 1 )
v=0时 I=0;
v为负时,I= - Is
v为正时,
I=Is e q v / ( k T )
理想 /实际 二极管,
导通:端电压 =0 / VD
截止,I = 0 / -IS
(二)、瞬态开关特性
二极管瞬态开关特性的细节, 同学们自己
再看一看,主要问题是:
? 反向恢复时间 是 影响二极管开关特性的 主要因素,正向
恢复时间往往可以忽略。出现反向恢复时间的 原因是 电
荷存储效应(外加正向电压时,非平衡 少子的积累 )。
? 反向恢复时间与哪些因素有关?
? t r t s t f 的定义?
(三 )、晶体二极管开关参数
自己看书,应知道有哪些主要参数,它们的物理意义
取值的大致范围。比如,最大正向电流, 最大反向电压,
反向电流 和 反向恢复时间 等。
三,晶体二极管限幅器及钳位器
(一)、二极管限幅器 (掐头去尾)
利用二极管的单向导通特性,限制某些信号的通过 。
1、串联限幅电路
串联限幅电路是指二极管处于与输入、输出首尾相连。
可以上限幅、下限幅和双限幅。
串联下限幅电路
可调整限幅电平的下限幅电路
串联双限幅电路
V2 > V1
理想二极管
2、并联限幅电路
二极管处于与输出、输入相并的状态。
并联下限幅电路
限幅电平可调的并联下限幅电路
双限幅的另一个例子是输入保护二极管限幅。
并联双限幅电路
上述限幅器都假定二极管为理想二极管,限幅电路
的 实际输出波形会差一些 。比如:
二极管正向 导通电阻不为 0,输出电压 幅度 会由于分压而 减小 。
二极管反向 截止电流不为 0,且 有结电容 输出电压会有 残留波形 。
输出端容性负载或分布电容,对输出波形的影响:
充电电阻小,放电电阻大
对后沿影响较大。
(二)、二极管钳位器 (挪上搬下)
钳位器的作用是将输入波形的顶部或底部搬移到某
一电平处,不剪裁波形。